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HORIBA HCLUE高效型CL光譜儀儀器簡(jiǎn)介:
電子束入射到樣品上,即可用光學(xué)方法接收并分析陰發(fā)光(CL),從而提供樣品詳細(xì)的物理特性。它是一種無損的分析方法,結(jié)合電鏡可提供與形貌相關(guān)的高空間分辨率光譜結(jié)果,是納米結(jié)構(gòu)和體材料的*分析工具。
HCLUE是一款基于反射鏡耦合優(yōu)化的CL系統(tǒng),結(jié)合了Jobin Yvon光譜技術(shù)制造的光譜儀模塊,具有高靈敏度性能,適用于弱信號(hào)測(cè)量??赏瑫r(shí)配備兩個(gè)探測(cè)器,以獲得更大光譜范圍。
原理圖
HORIBA HCLUE高效型CL光譜儀主要特點(diǎn):
● 反射鏡直接耦合
● 高靈敏度
● 掃描成像、線掃描、點(diǎn)測(cè)量
● 多種光柵選項(xiàng)
● 多種焦長(zhǎng)光譜儀選項(xiàng):320mm-550mm
● 可配雙探測(cè)器以獲得大光譜范圍:185nm-2500nm
重點(diǎn)應(yīng)用領(lǐng)域:
陰發(fā)光光譜儀(CL)是用來表征材料中的缺陷,元素和雜質(zhì)追蹤的強(qiáng)大分析工具,廣泛適用于各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域。
1、材料科學(xué)
● 半導(dǎo)體和光電材料
● 介電/陶瓷
● 氧化物膜
● 玻璃
2、礦物、地質(zhì)
● 碳酸巖
● 晶體
● 金剛石
● 鋯石、方解石、白云石
3、生命科學(xué)
CL光譜及成像:
CL光譜:使用CL測(cè)量光譜時(shí),可在電鏡下觀察并選擇待測(cè)樣品區(qū)域。 | 快速CL成像:將掃描電子束與您的光譜儀同步,提供快速成像方案。使用HCLUE系統(tǒng)測(cè)量的GaN樣品,測(cè)量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 |
礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測(cè)量使用Flex-CLUE系統(tǒng),配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測(cè)器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數(shù)據(jù) | 左圖:使用偽彩色顯示350nm-450nm之間發(fā)射光譜區(qū)。figure 1, Hyperspectral CL mapping 中圖:電鏡下的樣品圖像。figure 2, SE image 右圖:對(duì)應(yīng)的光譜,其中不同色彩區(qū)域與左圖中顯示的顏色對(duì)應(yīng)。figure 3, CL spectral (RGB) |